首页 >>

 

美国进口的IMPACT7X半导体分立器件测试系统经维修、升级投入使用
2006-8-18
   本中心从美国进口的IMPACT7X半导体分立器件测试系统,经过维修、升级,目前已...【详细资料  
 
 
元器件检测中心新增仪器设备: 安捷伦 93000 SOC 测试系统
2003-8-19
   能够灵活扩展升级的安捷伦 93000 SOC 测试系统介绍

1.数字测试能...【详细资料
 
 
 
元器件检测中心新增仪器设备:安捷伦Versatest系列测试系统
2003-8-18
   低成本的非接触式智能卡(ISO144443 Type A, Type B)测试解...【详细资料  
 
 
元器件检测中心检测能力
2003-6-30
   产品类别:集成电路
Agilent 93000 SOC test system...【详细资料
 
 
 
元器件检测中心试验能力
2003-6-30
   试验类别:气候环境
  试验项目:高温、低温、温度循环
  试验能力:-85...【详细资料
 
 
 

共有:5条记录 上一页 下一页    第1-1页  
 


元器件检测中心版权所有 2003